Le rendement énergétique global des systèmes de production d'énergie
solaire Panasonic HIT ne se dégrade pas, même quand le système
fonctionne avec un haut voltage. Les modules solaires HIT ont ainsi été
distingués lors d'une nouvelle étude. Le Fraunhofer Center for
Silicon-Photovoltaics (CSP), basé en Allemagne, a confirmé la résistance
des modules à la dégradation induite par le potentiel (PID). La
dégradation induite par le potentiel est un phénomène au cours duquel la
puissance d'un module photovoltaïque est réduite alors qu'il est soumis
à des facteurs externes tels qu'une haute température, un fort taux
d'humidité et lorsqu'une tension élevée est appliquée entre les circuits
internes (cellules photovoltaïques) et la structure de fixation reliée à
la terre.
Les modules photovoltaïques HIT sont reconnus pour leur performance.
Grâce à la technologie exclusive HIT, qui repose sur une fine couche de
silicium monocristallin de type n, entourée de part et d'autre de
couches de silicium amorphes ultrafines, les modules sont incroyablement
performants. En comparaison avec les panneaux photovoltaïques
classiques à base de silicium cristallin, le fait que la couche isolante
de la surface cellulaire puisse se charger en électricité est considéré
comme une cause directe de PID. Cependant, lorsqu'il s'agit de cellules
photovoltaïques HIT, les deux surfaces sont des couches conductrices
transparentes : il n'y a pas d'utilisation de couches isolantes. Par
conséquent, aucune PID n'est supposée se produire. Aucun cas de PID n'a
été signalé sur les marchés européen, américain ou japonais sur des
panneaux solaires HIT.
En collaboration avec le Fraunhofer CSP, Michaël Seys, Responsable du
développement produit photovoltaïque de Panasonic, a réalisé un test qui
met en œuvre à la fois un voltage positif et négatif. Pendant la série
de tests, les modules HIT ont été soumis à 1 000 volts pendant 48h à une
température de 50°C et une humidité relative de 50%. Les modules
solaires Panasonic HIT n'ont montré aucun signe de dégradation sous ces
conditions. Des dix modules utilisés pour les séries de tests, cinq
modules ont été soumis à +1 000 volts et cinq modules à -1 000 volts.
Les résultats obtenus n'ont montré aucun signe de PID. Le docteur
Matthias Ebert, Responsable du Groupe Fiabilité des Modules à Fraunhofer
CSP, a commenté les résultats du test : « Les modules HIT diffèrent des
modules standards du fait de leur couche supérieure chargée
négativement. Notre challenge a été de développer une méthode de test
qui prenne cela en compte. En testant à la fois des voltages positifs et
négatifs, nous pouvons attester de la résistance au PID des modules
solaires HIT. »
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